【低維結(jié)構(gòu)探針線站】
低維結(jié)構(gòu)探針(Low-Dimension Structure Probe)線站是一條插入件線站,以表面X射線散射為核心方法,分析低維材料與器件的結(jié)構(gòu)及其動(dòng)態(tài)變化。它采用IVU插入件作為光源,采用一條光束線串聯(lián)兩個(gè)實(shí)驗(yàn)站的設(shè)計(jì),前實(shí)驗(yàn)站(EH1)開展多環(huán)境下的X射線散射實(shí)驗(yàn),核心設(shè)備是一臺(tái)6+3圓衍射儀,配備多種小型樣品環(huán)境,提供共振和非共振的表面衍射、反射、CTR分析、倒易空間繪制(RSM)、表面PDF、掠入射XPCS等X射線散射方法,后實(shí)驗(yàn)站(EH2)開展超高真空下的表面散射原位結(jié)構(gòu)分析實(shí)驗(yàn),核心是一套“SXRS+HMBE+RHEED+GIXPCS+XRR”原位結(jié)構(gòu)探針集成裝置,其中的混合MBE腔可從衍射儀上推走,換成用戶自己的原位樣品制備腔體。
負(fù)責(zé)人:王煥華(010-88235994 wanghh@ihep.ac.cn)