專利
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深空探測X射線譜儀定標(biāo)設(shè)備

  • 英文名稱:
  • 專利號:ZL 200820080543.9
  • 專利類別:外觀設(shè)計
  • 專利證書號:
  • 申請?zhí)枺?/span>200820080543.9
  • 發(fā)明人:高旻、汪錦州、王煥玉、張承模、崔興柱、彭文溪、曹學(xué)蕾、張家宇、楊家衛(wèi)、梁曉華
  • 其它發(fā)明人:
  • 申請日期:2008-05-14
  • 授權(quán)日期:2008-05-14
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